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招標(biāo)代理公司（立即查看） 受業(yè)主單位（立即查看） 委托，于2025-09-24在采購與招標(biāo)網(wǎng)發(fā)布 關(guān)于公開征集設(shè)計仿真類和模塊集成及精密零部件加工檢測類貨物采購潛在供方的公告招標(biāo)公告。現(xiàn)邀請全國供應(yīng)商參與投標(biāo)，有意向的單位請及時聯(lián)系項目聯(lián)系人參與投標(biāo)。 關(guān)于公開征集設(shè)計仿真類和模塊集成及精密（略）部件加工檢測類貨物采購潛在供方的公告根據(jù)科（略）公司第四十五研究所擬向社會公開征集設(shè)計仿真類和模塊集成及精密（略）部件加工檢測類貨物潛在供方資源，現(xiàn)將有關(guān)事項公布如下：一、擬采購貨物情況本次需求擬采購貨物包括：設(shè)計仿真、模塊集成及精密（略）部件加工檢測兩類，貨物明細(xì)見附件1。二、潛在供方基本條件及填報材料清單1、附件2《潛在供方基本情況表》2、營業(yè)執(zhí)照復(fù)印件3、認(rèn)證證書復(fù)印件（如有）4、代理商代理資質(zhì)復(fù)印件（如非代理商忽略該項）5、第三方出具的社保繳納情況證明6、第三方出具的實繳資本情況證明7、三年財務(wù)報表8、對應(yīng)產(chǎn)品的報價單（含最短交付周期）9、對應(yīng)產(chǎn)品的既往銷售合同（三家）復(fù)印件（可隱藏客戶信息）。（略）、附件3《報價單》以上材料請各潛在供方蓋章后，以PDF格式（略）至以下（略）。三、征集窗口期（略）年（略）月（略）日-（略）年（略）月（略）日四、聯(lián)系方式1、（略）地址：（略）2（略）聯(lián)系人：（略））3、技術(shù)聯(lián)系人：（略）附件1貨物明細(xì)貨物序號貨物名稱主要技術(shù)（性能）指標(biāo)或規(guī)格要求單位臺套數(shù)量技術(shù)聯(lián)系人一、設(shè)計仿真類（略）源（略）源代碼靜態(tài)（略）析工具是在不改變現(xiàn)有開發(fā)、測試流程的前（略）（Git、SV（略）（如Jira、Bugzilla、（略）等）、持續(xù)集成工具（如Jenkins、（略））可以無縫對接，將源代碼檢測融入項目的研發(fā)流程，實現(xiàn)源代碼編碼規(guī)則檢測、運(yùn)行時缺陷檢測、安全漏洞檢測、度量統(tǒng)計、克隆檢測、逆向架構(gòu)圖自動生成，并提供了檢測器自主研發(fā)接口等功能，幫助產(chǎn)品快速構(gòu)建源代碼安全自主檢測體系和能力。1點(diǎn)位。套1宮工（略）界面自動化測試工具用于搭建（略）產(chǎn)品（略）：具備Window（略）上UI自動化測試能力；支持QT、WPF等開發(fā)（略）；適用PC端桌面程序的UI自動化測試。1點(diǎn)位。套1宮工（略）軟（略）功能庫用于搭建（略）產(chǎn)品（略）：具備Window（略）上UI界面的集成開發(fā)調(diào)試能力；帶（略）功能封裝庫；2個DC永久開發(fā)許可。套1宮工（略）成像光學(xué)設(shè)計（略）設(shè)計與仿真（略）公差與雜光（略）析、結(jié)構(gòu)和熱（略）析等模塊。1點(diǎn)位。套1張工（略）照（略）的研制提供必要的仿真模擬、自動優(yōu)化、能量計算、公差（略）析、雜散光（略）析等支持。1點(diǎn)位。套1張工（略）多物理場仿真（略）用于在項目實（略）集成階段均可進(jìn)行相關(guān)仿真。主要包含如下模塊：a射線光學(xué)：幾何光學(xué)、射線加熱；b波動光學(xué)：電磁波-時域顯式、電磁波-波束包絡(luò)、電磁波-瞬態(tài)、電磁波-邊界（略）、電磁波-頻域、電磁波-FEM-BEM；c射頻模塊：電磁波-時域顯式、電磁波-漸近散射、電磁波-瞬態(tài)、電磁波-邊界（略）、電磁波-頻域、電磁波-FEM-BEM。1點(diǎn)位。套1谷工（略）機(jī)械設(shè)計（略）用于機(jī)械三維設(shè)計，具備設(shè)計建模、特定于流程的建模工具、工業(yè)設(shè)計、產(chǎn)品驗證等功能。（略）點(diǎn)位。套1田工（略）集成了目前機(jī)械設(shè)計使用的N（略）設(shè)計（略），（略）三庫，電子電氣使用的P8、eplan以及與harness，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)共享，涵蓋了產(chǎn)品項目管理、產(chǎn)品存檔等功能，實現(xiàn)了設(shè)計過程中的產(chǎn)品數(shù)據(jù)共享。（略）點(diǎn)位。套1田工（略）交互式建模仿真（略）析（略）使用Matlab（略），基于MBD（ModelBasedDesign）（略），能夠較好的實現(xiàn)所需的高控制精度。并且搭配Matlab對應(yīng)的基本包，可以進(jìn)行離線仿真（略）析，算法設(shè)計優(yōu)化，可以（略），提高控制精度從而滿足設(shè)備更新迭代的需求。1點(diǎn)位。套1步工（略）絡(luò)、流熱耦合（略）析模型、（略），用于（略）機(jī)設(shè)備在概念設(shè)計、詳細(xì)設(shè)計階段和優(yōu)化設(shè)計階段快速計算壓力溫度等環(huán)境參數(shù)、應(yīng)力模態(tài)等力學(xué)參數(shù)，指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計。1點(diǎn)位。套1董工（略）超（略）仿真（略）用于對橡膠組件進(jìn)行仿真（略）析，從本構(gòu)方程及材料參數(shù)出發(fā)對懸置橡膠設(shè)計，將對減振器設(shè)計及問題排查提供有力的理論依據(jù)，更好指導(dǎo)設(shè)計的同時，還可以進(jìn)行性能優(yōu)化。3點(diǎn)位。套1（略）工（略）尺寸鏈計算及公差計算（略）用于產(chǎn)品的公差設(shè)計和優(yōu)化，包括尺寸及幾何公差對質(zhì)量性能影響的模擬和預(yù)測與優(yōu)化、公差匹配性管理與控制、裝配工藝參數(shù)與公差組合模擬（略）析與優(yōu)化，與產(chǎn)品設(shè)計并行開展可裝配性驗證，缺陷預(yù)防和改進(jìn)等任務(wù)。5點(diǎn)位。套1畢工（略）測試服務(wù)器用于（略）研發(fā)過程中的技術(shù)試驗和（略）測試。1采用國產(chǎn)的海光（HYGON）（略）處理器，（略）核心，2.0GHz；（略）G內(nèi)存；（略）T硬盤；（略）G顯卡顯存；5Raid（略）磁盤陣列；6支持Win（略）、Linu（略）。臺6張工（略）二、精密（略）部件加工與檢測類（略）絡(luò)（略）析儀用于測量測試功（略）器、（略）器、濾波器、衰減器、天線、電纜、放大器等器件。（1）頻率范圍：9kHz～4.5GHz；（2）端口數(shù)量：4；（3）中頻帶寬：1Hz～1MHz。臺1李工（略）熱成像儀用于大范圍測量板卡熱源。（1）人機(jī)接口：5.7英寸屏幕，（略）度旋轉(zhuǎn)；（2）激光對焦：LaserSharp?激光自動對焦；（3）多點(diǎn)對焦：MultiSharp?多點(diǎn)對焦在（略）個視場中提供自動對焦圖像。臺1李工（略）臥式定心車用于加工徑和質(zhì)量不太大的中小型鏡頭，比如顯微鏡和照相物鏡的鏡框加工等。曲率范圍：±3-±infmm；口徑范圍：5-（略）mm；光軸定心加工精度：3um。臺1孫工（略）光學(xué)傳函儀用于加工顯微鏡和照相物鏡的鏡框等中小型鏡頭。（1）樣品焦距范圍：1-（略）mm；（2）被測樣品通光口徑：（略）mm焦距（略）mm,（略）mm焦距（略）mm,（略）mm焦距（略）mm；（3）最大像高：±（略）mm；（4）最大法蘭焦距：（略）mm。臺1陳工（略）白光干涉儀用于測量各個樣品表面，包括平面度、粗糙度和波紋度等指標(biāo)。（1）全量程掃描范圍0-（略）mm，單次掃描完成，非拼接；（2）掃描速度：≥（略）ums；（3）CCD（略）辨率：（略）×（略）；4）工件臺尺寸：（略）×（略）mm。臺1高工（略）寸立式平面干涉儀用于吸盤及微晶玻璃的（略）域面型測量，并確保測量值的準(zhǔn)確性。（1）（略）辨率1.4k*1.4k，配置1倍，1.7倍和3（略）；（2）測量口徑：φ（略）mm；（3）RMS波前測試重復(fù)性：≤0.（略）nm,λ（略），mean+2σ）。臺1孫工（略）寸臥式平面干涉儀用于高精度平面面型、均勻度和平行度測量和光學(xué)（略）件的高精度檢測。（1空腔精度：φ（略）mm內(nèi)PV≤λ（略），RMS≤λ（略），PSD1≤1.1nm，GRMS小于等于2.5nmcm；（2RMS測試重復(fù)性：φ（略）mm端口≤λ（略），φ（略）mm端口≤λ（略）（2σ）；（3（略）傳遞函數(shù)：0.4mm-1處≥0.7；（4對準(zhǔn)視場：±2.5。臺1孫工（略）輪廓儀用于對球面、非球面、平面等面型的加工進(jìn)行高精度接觸式測量和面型擬合，對加工產(chǎn)生的誤差進(jìn)行及時（略）析。（1）最大工件直徑：（略）mm；（2）標(biāo)稱傳感器量程Z：±6mm（標(biāo)準(zhǔn)測桿）；±（略）mm（兩倍測桿）；（3）標(biāo)準(zhǔn)圓弧Pt精度：Pt≤0.4μm。臺1高工（略）偏振測量儀用于（略）析評估各偏振（略）件的性能質(zhì)量，以及對光源及各種空間光和光纖出光進(jìn)行偏振測量。（1）Q、U、V、DOP、DOLP、DOCP的重復(fù)性：3σ≤0.（略）或者0.5%（2）橢圓（略）度和偏振光線性（略）度的重復(fù)性：3σ≤0.（略）°（3）偏振度測量精度：±0.5%臺1高工（略）熒光（略）光光度計用于掃描熒光物質(zhì)液體、固體樣品所發(fā)出的熒光光譜。（1）檢測靈敏度：水拉曼峰信噪比：SN≥（略）（P-P）；（2）帶寬：4檔可選:2nm5nm（略）nm（略）nm；（3）波長準(zhǔn)確度：±1nm；（4）波長重復(fù)度：≤0.5nm。臺1張工（略）超連續(xù)譜光源提供不同波長的光源，測試光學(xué)（略）件的透過率等性能。（1）覆蓋波長最小值：（略）nm；（2）覆蓋波長最大值：（略）nm；（3）功率穩(wěn)定性：＜±1%。臺1高工（略）光柵光譜儀用于測量樣品對不同波長光的吸收、發(fā)射或散射來確定樣品成（略）。（1）波長范圍：（略）nm-（略）nm；（2）波長（略）辨率設(shè)置：0.（略）,0.（略）,0.1,0.2,0.5,1,2,5和（略）nm；（3）波長精度：±0.2（全波長范圍）±0.（略）（（略）nm）（4）最大測量功率范圍：+（略）dBm（（略）~（略）nm）+（略）dBm（（略）~（略）nm）臺1高工（略）波前調(diào)制器用于光場調(diào)控，實現(xiàn)矢量光束、環(huán)形光照明和像差校正等功能。（1）適用波長范圍（略）-（略）；（2）（略）辨率（略）*（略）；（3）填充因子（略）.2%。臺1吳工（略）內(nèi)調(diào)焦自準(zhǔn)直（略）物鏡鏡片裝調(diào)測試。（1）通光孔徑：（略）mm；（2）調(diào)焦范圍：（略）mm至無窮遠(yuǎn)；（3）光軸穩(wěn)定度：4″；（4）視場范圍：（略）mm（（略）m時）；（5）（略）辨率：0.（略）″。臺1陳工（略）偏差測量儀（略）中光學(xué)（略）件的橫向偏心和鏡片光軸相（略）光軸的偏轉(zhuǎn)等指標(biāo)。（1（略）偏差測量精度：≤±0.2μm或±2″；（2（略）偏差重復(fù)測量精度：≤±0.1μm或±1″；（3）曲率半徑測量精度：0.3%。臺1陳工（略）壓力校準(zhǔn)儀用于校驗各類型絕對壓力傳感器、壓力變送器、壓力傳感器、壓力開關(guān)、差壓變送器、數(shù)字壓力表。（1）控制模塊CM（略）KPa表壓：0.（略）%rdg+0.（略）%FS；（2）控制模塊CM（略）KPa絕壓：0.（略）%FS；（3）控制穩(wěn)定性：優(yōu)于0.（略）%FS。臺1王工（略）便攜式聲學(xué)檢測設(shè)備用于將聲音以彩色等高線圖的方式可視化，形成類似于熱成像儀對舞臺溫度的探測效果，然后通過照片或視頻方式直觀顯示出聲源（略）布，從而準(zhǔn)確定位設(shè)備噪聲源，更加快捷有效解決噪聲困擾問題。（1）麥克風(fēng)數(shù)量：（略）；（2）麥克風(fēng)靈敏度：-（略）dBFS；（3）聲音（略）析頻率范圍：（略）Hz~（略）kHz。臺1王工（略）氣相質(zhì)譜儀用于測量高純氮（略）域的氧氣、水以及有機(jī)揮發(fā)物的濃度。（1）靈敏度：Elf:（略）;Eiger:（略）;Scout:（略）;S:（略）K;2R:（略）K;B:（略）K;B2:（略）K；（2）質(zhì)量（略）辨率：Elf:（略）;Eiger:（略）;Scout:（略）;S:（略）;2R:（略）;B:（略）;B2:（略）。臺1董工（略）高精度多點(diǎn)風(fēng)速測量儀用于工件臺、掩模臺、晶圓傳（略）的（略）與（略）機(jī)內(nèi)環(huán)境流體接口的氣體流速、（略）機(jī)內(nèi)部關(guān)鍵位置速度測量。（1）風(fēng)速范圍0.（略）-2ms；（2）精度±0.（略）ms；（3）風(fēng)向（略）±（略）°,全方位。臺1王工（略）磁場相機(jī)用于在項目實（略）集成階段，針對電機(jī)永磁體性能、永磁體對環(huán)境磁場的影響、傳感器所處磁場環(huán)境、電磁屏蔽等多方面問題進(jìn)行輔助（略）析和解決。（1）幾何（略）辨率：（略）μm；（2）傳感器尺寸規(guī)格：（略）.8*（略）.8mm；（3）絕對精度小于滿量程的1%；（4）重復(fù)性小于滿量程的0.2%。臺1崔工（略）振動測