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招標(biāo)代理公司（立即查看） 受業(yè)主單位（立即查看） 委托，于2025-10-31在采購(gòu)與招標(biāo)網(wǎng)發(fā)布 沈陽(yáng)師范大學(xué)多功能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采購(gòu)項(xiàng)目招標(biāo)公告。現(xiàn)邀請(qǐng)全國(guó)供應(yīng)商參與投標(biāo)，有意向的單位請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系項(xiàng)目聯(lián)系人參與投標(biāo)。 項(xiàng)目概況沈陽(yáng)師范大學(xué)多功能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采購(gòu)項(xiàng)目招標(biāo)項(xiàng)目的潛在供應(yīng)商應(yīng)在（略）獲取招標(biāo)文件,并于（略）年（略）月（略）日（略）時(shí)（略）（北京時(shí)間）前遞交投標(biāo)文件。一、項(xiàng)目基本情況項(xiàng)目編號(hào)：JH（略）-（略）-（略）項(xiàng)目名稱：沈陽(yáng)師范大學(xué)多功能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采購(gòu)項(xiàng)目包組編號(hào)：（略）預(yù)算金額（（略））：（略）最高限價(jià)（（略））：（略）采購(gòu)需求：查看（略）-1多功能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（數(shù)量：1套、國(guó)產(chǎn)）；一、多功能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡及其配套設(shè)備詳細(xì)參數(shù)1（略）★1.（略）距離為（略）mm時(shí)，1kV（略）辨率≤1.0nm；1.4著（略）電壓：最小著（略）能量≤（略）V，最大≥（略）kV▲1.5電子槍：肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍，電子槍自動(dòng)啟動(dòng)，自動(dòng)烘烤?！?.6電子束流范圍：最小束流≤1.0pA，最大束流≥（略）nA，且連續(xù)可調(diào)?！?.7具備搖擺電子束模式，用（略）域的（略）尋找?！?.8光闌：自加熱式光闌，確保清潔和無(wú)接觸式光闌更換。1.9對(duì)中：具備智能調(diào)（略），無(wú)需用戶手動(dòng)對(duì)中?！?.（略）配備電子束減速模式：樣品臺(tái)偏壓范圍不小于-（略）V至+（略）V。1.（略）復(fù)合末級(jí)透鏡：靜電、無(wú)磁場(chǎng)和浸沒(méi)式結(jié)合而成的物鏡，可切換三種不同模式，可測(cè)試磁性樣品。2．樣品室和樣品臺(tái)2.1樣品室：樣品室左右內(nèi)徑≥（略）mm，（略）析工作距離可實(shí)現(xiàn)≥9mm，≥（略）個(gè)探測(cè)器附件接口；▲2.2樣品臺(tái)：五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，最大移動(dòng)范圍：（略）≥（略）mm，Y≥（略）mm，Z≥（略）mm，T≥-（略）°~+（略）°，R=（略）°連續(xù)旋轉(zhuǎn)；2.3樣品臺(tái)最大承重：≥5.0kg；▲2.4配備多功能樣品座，可同時(shí)放置≥（略）個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，還能夠滿足預(yù)傾斜樣品、截面樣品、STEM樣品等樣品的檢測(cè)需求，安裝樣品不需要工具。3.探測(cè)器包含5個(gè)獨(dú)立探測(cè)器及2款獨(dú)立相機(jī)：★3.1配備獨(dú)立透鏡內(nèi)高敏感背散射電子探測(cè)器1個(gè)，提供（略）V以下高清背散射電子圖像。3.2配備獨(dú)立的鏡筒內(nèi)中位二次電子探測(cè)器1個(gè)，可探測(cè)樣品表面形貌?！?.3配備獨(dú)立的鏡筒內(nèi)高位高（略）辨二次電子探測(cè)器1個(gè)，可探測(cè)樣品電位襯度?！?.4配備樣品倉(cāng)內(nèi)二次電子探測(cè)器1個(gè)?！?.5配備樣品倉(cāng)內(nèi)背散射探測(cè)器，（略）控制伸縮，具備（略）度（略）割或環(huán)形（略）割模式，總（略）割數(shù)≥8個(gè)，可通過(guò)（略）切換（略）割模式；★3.6配備樣品室IR-CCD相機(jī)，用于觀察樣品室內(nèi)位置情況；★3.7宏觀導(dǎo)航相機(jī)（安裝在樣品倉(cāng)內(nèi)）1個(gè)，像素≥（略），視野范圍≥（略）*（略）mm；具有自動(dòng)采集圖像，數(shù)字變焦，圖像注釋和圖像保存功能。能夠呈現(xiàn)各樣品在樣品座的位置，結(jié)合（略），可通過(guò)鼠標(biāo)雙擊圖像興趣點(diǎn)，使（略）位置；▲3.8探測(cè)器需具備拍攝高襯度背散射像能力，提供聚合物小球上四氧化三鐵磁性顆粒SEM像片作為證明材料。4（略）▲4.1（略）；4.2（略）子泵≥1個(gè)，無(wú)油機(jī)械泵≥1個(gè)，離子泵≥2個(gè)；4.3機(jī)械泵具備靜音模式，可以在真空度達(dá)到要求后停止機(jī)械泵工作，提升機(jī)械泵使用壽命。4.4關(guān)閉樣品艙門后抽真空時(shí)間小于3.5（略）鐘即可開(kāi)始掃描樣品。5（略）▲5.1圖像存儲(chǔ)（略）辨率：不低于（略）k×（略）k像素（非疊加下），需提供操作界面截圖。5.2單視圖和四視圖圖像可切換顯示?！?.3一鍵（略）自動(dòng)合軸、自動(dòng)消像散及自動(dòng)聚焦。5.4具備智能掃描模式（（略）幀平均或積（略）,線積（略）或平均,隔行掃描）和DCFI漂移補(bǔ)償幀積（略）模式。▲5.5能夠提供耐熱鋼純粹的相襯度像（電位襯度）SEM像片，（略）襯度。6.應(yīng)用（略）▲6.1配置自動(dòng)圖像拍照和拼接（略），可實(shí)現(xiàn)不小于（略）域（略）張圖像的自動(dòng)拍照和圖像拼接，可實(shí)時(shí)對(duì)已選定視場(chǎng)進(jìn)行回溯。提供4x（略）mm奧氏體鋼拋光后的無(wú)縫拼接背散射電子圖像?！?.2應(yīng)具備取消重做功能，可返回任意一步操作。6.3應(yīng)具有樣品臺(tái)圖像導(dǎo)航功能。6.4應(yīng)具有雙擊鼠標(biāo)移動(dòng)樣品功能。6.5應(yīng)具有鼠標(biāo)拖曳式放大及對(duì)中功能。6.6應(yīng)具有基礎(chǔ)操作應(yīng)用的向?qū)??！?.7四活動(dòng)窗口顯示，可同時(shí)顯示≥4幅不同探測(cè)器圖像。7.附屬配件▲7.1多功能控制面板1套，可控制焦距、放大倍率、對(duì)比度、亮度等參數(shù)。8.配置能譜儀一套，用于（略）成（略）析；★8.1探頭類型：硅漂移探頭（電制冷），能譜儀有效窗口面積不小于（略）mm2；（略）控制探頭伸縮；具備漂移矯正、實(shí)時(shí)定量面（略）布圖、實(shí)時(shí)譜峰剝離面（略）布圖、相（略）～Am（（略））號(hào)（略）素▲8.4EDS操作完全集成在電鏡用戶界面中（提供（略）截屏），由一套（略）控制；成像及能譜緊密集成以實(shí)時(shí)譜采集和處理，可以快速獲取數(shù)據(jù)；▲8.5能譜與電鏡的售后服務(wù)均由（略）師負(fù)責(zé)，提供電鏡廠家對(duì)能譜及電鏡售后服務(wù)的承諾函。8.6具備背底扣除功能。8.7具備自動(dòng)譜峰識(shí)別功能8.8譜圖自動(dòng)校準(zhǔn)功能，能自動(dòng)去除和峰、逃逸峰；▲8.9（略）配備漂移校準(zhǔn)功能，用于校準(zhǔn)因樣品導(dǎo)電不佳或長(zhǎng)時(shí)間面掃描導(dǎo)致的圖像漂移▲8.（略）能譜儀探頭具有遠(yuǎn)工作距離、標(biāo)準(zhǔn)工作距離和超近工作距離三個(gè)（略）素信息采集位置。8.（略）可以進(jìn)行大面積面（略）布采集和拼接。9.配件：配備空（略）各1套；配備UPS不間斷電源1套；★9.1備用電子槍：至到貨之日起免費(fèi)提供可保障電鏡正常使用（略）年所需的電子槍或提供2根備用電子槍、光闌耗材（非人為原因損壞或自然災(zāi)害導(dǎo)致的損壞）并免除由此產(chǎn)生的更換燈絲、光闌的人工費(fèi)。二、電鏡配套顯微共（略）詳細(xì)參數(shù)2.1光譜儀★2.1.1光譜儀設(shè)計(jì)：為保證儀器的高通光效率和高靈敏度，采用自動(dòng)聚焦透射式共軸設(shè)計(jì)單級(jí)光譜儀，無(wú)色差，無(wú)像差。光譜儀焦距：≤（略）mm。2.1.2為避免激光器發(fā)（略）穩(wěn)定性，激光器不得內(nèi)置于儀器當(dāng)中。2.1.3為確保儀器重心穩(wěn)定性、避免顯微鏡白光光源加熱光譜儀和光譜儀研究級(jí)品質(zhì)，光譜儀不可放置在顯微鏡的上部。2.1.4（略）總通光效率大于（略）%?！?.1.5高靈敏度：硅三階峰（在（略）cm-1）的信噪比≥（略）:1，并能觀察到四階峰。檢測(cè)條件：使用單晶硅片，波長(zhǎng)（略）nm，激光到達(dá)樣品功率（略）mW，狹縫寬度（或針孔）≤（略）微米，需使用≥（略）線高（略）辨光柵，曝光時(shí)間（略）秒，累加次數(shù)3次（或曝光時(shí)間（略）秒，累加次數(shù)5次），binning等于1，顯微鏡頭為x（略）倍。2.1.6光譜范圍：（略）nm到（略）nm，全光譜范圍內(nèi)可快速連續(xù)掃描，無(wú)接譜。其中：（略）nm激發(fā)波長(zhǎng)，光譜范圍：（略）-（略）cm-（略）nm激發(fā)波長(zhǎng)，光譜范圍：（略）-（略）cm-1后期可根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求升級(jí)激發(fā)波長(zhǎng)范圍值5-（略）cm-1.2.1.7不同波長(zhǎng)瑞利濾光片需自動(dòng)切換，采用三點(diǎn)精確定位技術(shù)，轉(zhuǎn)臺(tái)采（略），確保精度和重復(fù)性?！?.1.8標(biāo)準(zhǔn)光譜（略）辨率：0.8cm-1。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：使用氖燈作為信號(hào)源，≥（略）刻線毫米光柵，測(cè)試（略）nm發(fā)光線，其半高全寬小于等于1波數(shù)（FWHM≤1cm-1）。2.1.9配置高（略）辨率光柵，（略）控制自動(dòng)轉(zhuǎn)換。并能實(shí)現(xiàn)光柵連續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)的全譜掃描方式，保證高（略）辨率下的無(wú)接譜，采用背靠背雙光柵轉(zhuǎn)臺(tái)避免儀器校準(zhǔn)誤差，光柵控制采（略）控制光柵的精確定位和重復(fù)性?！?.1.（略）光柵使用（略）（NIR）、（略）（Vis）刻線毫米高（略）辨率光柵，并能（略）控制自動(dòng)轉(zhuǎn)換。并能實(shí)現(xiàn)光柵連續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)的全譜掃描方式，保證高（略）辨率下的無(wú)接譜。光柵需采用雙光柵背靠背轉(zhuǎn)臺(tái)，避免多塔輪光柵轉(zhuǎn)臺(tái)造成的旋轉(zhuǎn)偏差?！?.1.（略）光譜重復(fù)性：≤±0.（略）cm-1。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：使用表面拋光的單晶硅做樣品，采用（略）×物鏡，≥（略）刻線毫米光柵，重復(fù)（略）次。觀測(cè)硅拉曼峰（（略）cm-1），（略）位置重復(fù)性≤±0.（略）cm-1。2.1.（略）切換不同的激發(fā)波長(zhǎng)可自動(dòng)聚焦透鏡組，保證每個(gè)透鏡（略）%以上的拉曼信號(hào)透過(guò)率。2.1.（略）CCD探測(cè)器：應(yīng)使用紫外和近紅外同時(shí)增強(qiáng)型CCD探測(cè)器，像素≥（略）*（略），響應(yīng)范圍（略）nm-（略）nm，半導(dǎo)體制冷到-（略）℃，且無(wú)需等待恢復(fù)到室溫，可直接關(guān)機(jī)，為確保成像速度，最短積（略）時(shí)間0.（略）秒?！?.1.（略）濾光片轉(zhuǎn)臺(tái)、光柵轉(zhuǎn)臺(tái)等齒輪傳動(dòng)部件，具（略），以避免因齒輪長(zhǎng)期轉(zhuǎn)動(dòng)磨損而影響定位精度。直線光柵尺SDE＜（略）nm；圓光柵尺SDE＜0.2arcsecond。2.2激光器2.2.（略）nm激發(fā)波長(zhǎng)，外置激光器功率≥（略）mW，隨機(jī)一套。2.2.（略）nm激發(fā)波長(zhǎng)，外置激光器功率≥（略）mW，隨機(jī)一套。2.2.3儀器可升級(jí)到6種不同激發(fā)波長(zhǎng)以上，包含深紫外波長(zhǎng)（（略）nm，（略）nm，（略）nm，（略）nm，（略）nm等）、紅外波長(zhǎng)（（略）nm等）等更多激發(fā)波長(zhǎng)。2.2.4各波長(zhǎng)均使用兩片瑞利濾光片和一片用于去除等離子線的干涉濾光片，儀器阻擋激光瑞利散射水平好于（略）?！?.2.5不同激發(fā)波長(zhǎng)采用獨(dú)立的，按波長(zhǎng)獨(dú)立優(yōu)化的自由空間激光（略），非采用光纖耦合，以保證每個(gè)波長(zhǎng)均有最優(yōu)的通光效率，避免互相影響。切換波長(zhǎng)時(shí)，（略）采用計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)切換?！?.2.6各個(gè)波長(zhǎng)均配有激光擴(kuò)束器，使激光光斑尺寸在焦平面上連續(xù)可調(diào)，（略）倍標(biāo)準(zhǔn)物鏡下，光斑尺寸可在1μm-（略）μm連續(xù)變化，并能連續(xù)改變到樣品上的激光功率密度，以方便信號(hào)弱且怕燒樣品的檢測(cè)。2.2.7計(jì)算機(jī)控制激光多級(jí)衰減片，以方便針對(duì)不同樣品調(diào)（略）激光功率。2.3智能控制功能2.3.1切換波長(zhǎng)時(shí)，采用計(jì)算機(jī)控制全自動(dòng)切換激光器、濾光片、光柵等光學(xué)（略）件。2.3.2內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)樣品：自動(dòng)準(zhǔn)直激光到樣品的（略）、樣品至探測(cè)器的拉曼信號(hào)（略）。2.3.3自動(dòng)定期儀器狀態(tài)校準(zhǔn)、并自動(dòng)調(diào)節(jié)（略），保證儀器最佳性能狀態(tài)；可以遠(yuǎn)程診斷主機(jī)工作狀態(tài)。2.3.4自動(dòng)拉曼信號(hào)強(qiáng)度校正功能：內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)白光光源，（略）自動(dòng)校準(zhǔn)拉曼光強(qiáng)度，消除不同波長(zhǎng)信號(hào)的響應(yīng)差異。2.3.5自動(dòng)波長(zhǎng)校準(zhǔn)功能：內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)氖燈光源，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)全光譜自動(dòng)校準(zhǔn)，保證光譜峰位準(zhǔn)確度。2.3.6拉曼信號(hào)采集模式與白光照明模式自動(dòng)切換。2.4共焦技術(shù)▲2.4.1（略）靈敏度，需采用新型數(shù)字化針孔真共焦顯微技術(shù)（數(shù)字化控制狹縫和CCD（略）域，需提供相關(guān)證明材料），以避免傳統(tǒng)機(jī)械針孔式共焦帶來(lái)儀器的不穩(wěn)定性和復(fù)（略）調(diào)（略）。2.4.2（略）控制自動(dòng)調(diào)（略）狹縫大小，在（略）-（略）um范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。2.4.3空間（略）辨率：在x（略）倍鏡頭下，使用（略）nm激發(fā)波長(zhǎng)測(cè)試單晶硅片，橫向（略）辨率≤0.（略）微米，光軸方向縱向（略）辨率≤1微米，共焦深度連續(xù)可調(diào)。2.5共焦顯微鏡★2.5.1高穩(wěn)定性研究級(jí)顯微鏡，需配置（略）原裝目鏡。顯微放大倍數(shù)：＞（略）倍。2.5.2物鏡：5（略）、（略）、長(zhǎng)焦（略）、（略）物鏡、（略）水鏡各一套。2.5.3顯微鏡廠家原裝透射和反射柯勒照明。2.5.4隨機(jī)配置≥（略）像素?cái)z像頭，可安全觀察激光光斑，可在計(jì)算機(jī)上顯示存儲(chǔ)圖像。2.5.5通過(guò)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)高低聚焦樣品，不調(diào)節(jié)物鏡，保證穩(wěn)定性。2.6數(shù)據(jù)庫(kù)（1套）2.6.1具有譜庫(kù)檢索和建庫(kù)功能，并提供無(wú)機(jī)物、有機(jī)物高（略）子數(shù)據(jù)庫(kù)。2.7全套（略）包2.7.1Windows下光譜專業(yè)（略）包：包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理（略）析等各項(xiàng)功能。儀器控制：可完成（略）調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)。2.7.2數(shù)據(jù)采集：包括單張光譜采集、各種模式的拉曼成像數(shù)據(jù)采集、時(shí)間序列及長(zhǎng)時(shí)間自動(dòng)排隊(duì)程序測(cè)試。2.7.3數(shù)據(jù)處理（略）析：包括單張光譜（略）析；多張數(shù)據(jù)的（略）合及批量處理；成像數(shù)據(jù)（略）析。2.8拉曼成像功能模塊2.8.1配置（略）的（略）YZ三維高精度自動(dòng)樣品臺(tái)▲2.8.1.1（略），掃描范圍：（略）≥（略）毫米，Y≥（略）毫米，Z≥（略）毫米。2.8.1.2最小步長(zhǎng)為≤（略）納米。2.8.1.3帶手動(dòng)操作鼠標(biāo)球，可（略）自動(dòng)控制驅(qū)動(dòng)。2.8.1.4可對(duì)樣品測(cè)量部位自動(dòng)定位并進(jìn)行拉曼成像，進(jìn)行（略）散的多點(diǎn)、線、面掃描和共焦深度的掃描成像。2.8.1.5采